stem

STEM解析

概要

  • 集束イオンビーム加工装置による試料の断面加工を行います。
  • 走査透過型電子顕微鏡による試料の断面観察を行います。ナノスケールレベルの分解能で断面形状を観察することが可能です。
集束イオンビーム加工装置 / 走査透過型電子顕微鏡STEM
Ni観察例 / Cu観察例
Au粒子観察例 / カーボングラファイト標準試料観察例
雲母観察例
STEM原理

お問い合わせ

TEL:029-270-1797
FAX:029-270-1540

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