ルネサス セミコンダクタ
マニュファクチュアリング(株)
(旧ルネサス那珂セミコンダクタ
分析センタ)


physics

物理解析

「次のような分析が得意です...」

  • 集束イオンビームによる半導体素子の断面加工・観察
  • 高分解能走査型電子顕微鏡による半導体素子の表面・断面観察・元素分析
  • マイクロサンプリング法によるピンポイント走査型透過電子顕微鏡観察・元素分析
  • 半導体素子付着物の元素分析
  • 解析手法をクリックすると解析事例がご覧いただけます

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TEL:029-270-1797
FAX:029-270-1540

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